Применение — метод — дифракция

Cтраница 1

Применение метода дифракции на отражение высокоэнергетичных электронов ( RHEED) для исследования структуры поверхности образцов Si ( l 11) и Bi2Sr2CaCu2Ov представлено в обзоре [29], содержащем 7 ссылок. Приведены сведения о сверхпроводниках состава Bi2Sr2CaCu2Og и Nd2 — xCexCuO4 в виде монокристаллов.  [1]

Кристаллическая решетка пиррофилита.| Электрономикроскопи-ческий снимок хромосомной.  [2]

Применение метода дифракции электронов также ограничено твердыми объектами.  [3]

Возможность применения метода дифракции медленных электронов ( ДМЭ) для изучения поверхностных явлений связана с малой проникающей способностью электронов при энергиях от нескольких электронвольт до сотен электронвольт и с тем фактом, что длина электронной волны ( 150 / В) 1 / 2 оказалась подходящей для дифракции на кристаллических решетках твердых веществ.

Показано, что для электронов с энергиями не выше 250 — 300 эВ заметный вклад в образование дифракционной картины вносят только два или три верхних слоя атомов поверхности, причем основной вклад приходится на первый монослой. Из-за малой проникающей способности электронов дифракционная картина по многим характеристикам больше похожа на картину дифракции света от двумерной решетки, чем на дифракцию рентгеновских лучей от трехмерной решетки кристаллов. Чтобы оценить эти различия, целесообразно сравнить дифракционные картины рентгеновских лучей и ДМЭ. Для получения лауэграмм используют узкий пучок белого рентгеновского излучения, перпендикулярно падающий на монокристалл. От непрозрачного кристалла и рентгеновские лучи и медленные электроны отражаются и появляются с той же стороны кристалла, откуда падает исходный пучок. Серии брэгговских отражений от разных рядов плоскостей в кристалле образуют дифракционную картину. Эти отражения можно получить в виде маленьких точек на фотопленке, помещенной на расстоянии нескольких сантиметров от кристалла перпендикулярно падающему лучу. Каждая точка соответствует брэгговскому отражению от одного ряда атомных плоскостей при одной длине волны.  [4]

Схема молекулярной структуры волос, ногтей, мышц и друглх белковых тканей, имеющих волокнистое строение. Молекулы белка имеют конфигурацию а-спи-рали ( 179. каждая молекула показана на этом рисунке в виде стержня с круглым сечением. Такие волокнистые белки содержат кабели из семи волокон, причем одно волокно является центральной спиралью, а шесть других обвивают его в направлении правой нарезки винта. Пространство между такими кабелями заполнено дополнительными а-спиралями.  [5]

Благодаря

применению метода дифракции рентгеновских лучей не так давно удалось установить характер изогнутости полипептидных цепей в белках.  [6]

Во время недавней дискуссии о целесообразности применения метода дифракции низкоэнергетических ( или медленных) электронов при исследовании гетерогенного катализа Джермер и Макрай [447] утверждали, что изучение катализа на поликристаллических поверхностях может скоро выйти из моды. Однако, как указывалось в предыдущем разделе, Кембол [428] и Бонд [422] пришли к весьма оптимистическому заключению относительно того, что имеется достаточно хорошее соответствие между характером катализа на напыленных пленках и на поликристаллических твердых телах. Поэтому мы считаем необходимым рассмотреть влияние физического состояния твердого тела на его каталитические свойства. Для этого нельзя найти более подходящей области, с которой эта тема была бы столь тесно связана, как обсуждение последних результатов изучения дифракции электронов. Некоторые из обнаруженных при этом фактов имеют фундаментальное значение.  [7]

Изображение на плоскости структуры натриевосиликатного стекла.  [8]

Хартлиф [8] утверждали, что результаты, полученные при применении метода дифракции рентгеновских лучей, не подтверждают точки зрения о случайном распределении модифицирующих катионов по всей сетке.  [9]

После того как методами ультрацентрифугирования установлено наличие четвертичной структуры у фермента, дальнейшее определение пространственного расположения субъединиц, очевидно, требует какого-либо другого подхода, например применения метода дифракции рентгеновских лучей

.  [10]

Определение положений атомов водорода во льду — трудная проблема, поскольку атомы водорода менее эффективно рассеивают рентгеновские лучи и электроны, чем атомы кислорода. Еще до применения метода дифракции нейтронов для выяснения этой проблемы было использовано несколько не прямых методов, которые мы сейчас рассмотрим.  [11]

Это подтверждают результаты исследований с применением метода дифракции рентгеновских лучей; на дифрактограммах жидкости и стекла примерно в одних и тех же положениях имеются широкие диффузные кольца, в то время как для кристаллических материалов характерны четкие кольца. Структуры как стекла, так и жидкости характеризуются отсутствием дальнего порядка. Под этим мы подразумеваем отсутствие на значительных расстояниях систематической повторяемости атомов элементарной ячейки, характерной для кристаллических веществ.  [12]

Расположение атомов ( проекция на плоскость. Элементарная ячейка представляет собой квадрат. Малые атомы имеют координаты О О, большие У2 V2.  [13]

Метод изучения структуры кристаллов при помощи дифракции рентгеновских лучей, разработанный в 1912 г. немецким физиком Максом фон Лауэ ( 1879 — 1960) и усовершенствованный английскими физиками У. Г. Брэггом ( 1862 — 1942) и У. Л. Брэггом ( 1890), позволил получить весьма ценные результаты, особенно за последние десятилетия. Очень многие сведения о молекулярной структуре, приводимые на страницах данной книги, получены благодаря применению метода дифракции рентгеновских лучей.  [14]

Применение метода электронной микроскопии для исследования коллоидных растворов ограничено тем, что для наблюдения в проходящем пучке объект должен быть в твердом состоянии и в исключительно тонком слое.

Практически каплю раствора наносят на тончайшую коллодиевую пленку и выпаривают. Применение метода дифракции электронов также ограничено твердыми объектами.  [15]

Страницы:      1    2

Дифракционная решетка и ее применение

• формат doc
• размер 1.3 МБ
• добавлен 05 июня 2010 г.

Оглавление
Вступление
Принцип Гюйгенса-Френеля
Дифракция Фраунгофера от прямоугольного отверстие
Дифракция Фраунгофера от щели
Дифракция Фраунгофера от N щелей
Дифракционные решетки
Вогнутые решетки

Схемы установок вогнутых решеток
Спектографы. Дифракционные спектографы
Приборы для массовых исследований
Астроспектрографы
Спектрографы для вакуумного ультрафиолета
Монохроматоры
Монохроматоры с дифракционной решеткой
Использованная литература:

Углубленный реферат(аналитический обзор) о применении дифракционной решетки
ДНУ им. Олеся Гончара

Похожие разделы

1. Академическая и специальная литература
2. Наноматериалы и нанотехнологии
3. Физика наноразмерных систем
4. Нанооптика и нанофотоника

1. Академическая и специальная литература
2. Радиоэлектроника
3. Оптоэлектроника

1. Академическая и специальная литература
2. Радиоэлектроника
3. Электронная компонентная база (ЭКБ)
4. Лазеры

1. Академическая и специальная литература
2. Физика
3. Квантовая физика
4. Квантовая оптика

1. Академическая и специальная литература
2. Физика
3. Физика плазмы

1. Академическая и специальная литература
2. Физика
3. Физика твердого тела
4. Оптические свойства твердых тел

Смотрите также

• формат doc
• размер 45. 5 КБ
• добавлен 26 мая 2009 г.

История вакуумных насосов, виды, применение

Реферат

• формат docx
• размер 880.01 КБ
• добавлен 16 января 2012 г.

Реферат — ТГТУ, Ташкент, 2011 г., 31 стр. Содержание: Физические принципы голографии. Применение голографии. Изобразительная голография. Копирование голограмм. Радужная голография. Голографические оптические элементы. а Линза. б Дифракционная решетка. в Мультипликатор. г Компенсатор. д Микроскоп. Голографические ВЗУ. Голографические запоминающие устройства. а Преимущества оптической памяти. б Архивные ГЗУ. в Массовые ГЗУ. г ГЗУ постоянного типа (…

• формат doc
• размер 924. 13 КБ
• добавлен 17 января 2010 г.

Физические принципы голографии. Применение голографии. Изобразительная голография. Копирование голограмм. Радужная голография. Голографические оптические элементы. а) Линза. б) Дифракционная решетка. в) Мультипликатор. г) Компенсатор. д) Микроскоп. Голографические ВЗУ. Голографические запоминающие устройства. а) Преимущества оптической памяти. б) Архивные ГЗУ. в) Массовые ГЗУ. г) ГЗУ постоянного типа (ГПЗУ). Носители информации для голографически…

Реферат

• формат doc
• размер 429 КБ
• добавлен 03 июня 2011 г.

Реферат — Размерные эффекты. Квантовые размерные эффекты. Плотность электронных состояний. Явления, обусловленные квантовыми размерными эффектами. Как создаются квантовые структуры. Квантовая яма. Квантовые точки. Методы их получения. Применение. Квантовые нити. Методы изготовления. Применение. Заключение.

Реферат

• формат docx
• размер 155.37 КБ
• добавлен 26 августа 2010 г.

Принцип действия лазеров. Основные свойства лазерного луча. Монохроматичность лазерного излучения. Его мощность. Гигантский импульс. Характеристики некоторых типов лазеров. Практическое применение оптических квантовых генераторов. Применение лазерного луча в промышленности и технике. Применение лазеров в медицине. Лазер в офтальмологии. Протонная терапия опухолей. Лазеры в вычислительной технике. Лазерные технологии – средство записи и обработки. ..

Реферат

• формат docx
• размер 44.46 КБ
• добавлен 01 апреля 2011 г.

Причина удивительных свойств лазерного луча. Когерентный свет Анатомия лазера Типы лазеров: газоразрядные; эксимерные; электроионизационные; химические Применение лазеров в военном деле Лазерная локация -характерные параметры Наземные лазерные дальномеры и их применение в армиях Заключение Использованная литература

Реферат

• формат doc
• размер 431.89 КБ
• добавлен 23 марта 2011 г.

Доклад на студенческую научно-практическую конференцию на тему: Применение жидких кристаллов в промышленности Содержание: 1. Вступление 2. История открытия жидких кристаллов 3. Группы жидких кристаллов 4. Применение жидких кристаллов 4.1 Стекло на жидких кристаллах 5. Преимущества и недостатки 6. Применение

• формат doc
• размер 270 КБ
• добавлен 07 августа 2009 г.

Рентгеноструктурный анализ это метод исследования строения тел, использующий явление дифракции рентгеновских лучей, метод исследования структуры вещества по распределению в пространстве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте рентгеновского излучения. Дифракционная картина зависит от длины волны используемых рентгеновских лучей и строения объекта. Для исследования атомной структуры применяют излучение с длиной волны ?1?, т. е. поряд…

Реферат

• формат doc
• размер 225. 5 КБ
• добавлен 03 октября 2010 г.

МГГУ, 2 курс, 2009 г, 14 стр Введение Классификация сегнетоэлектриков Основные свойства Применение Заключение Литератураrn

Реферат

• формат docx
• размер 66.71 КБ
• добавлен 11 октября 2010 г.

2008 г. 15 с. Теоретическое обоснование процессов электролиза. Факторы от которых зависит электролиз. Применение в промышленности. Практическое применение электролиза.

Пути света | Проекты

Предмет: Физика

Класс: 11 классы.

Тема: Дифракция света

Основной вопрос: Может ли свет огибать препятствия и как это будет происходить.

Гипотеза:

Свет распространяется прямолинейно и следовательно, обходить препятствия не может.

Цели: 

Изучение световых явлений на примере дифракции и выявление условий её возникновения и ограничения , которые она накладывает на применение законов геометрической оптики.

Задачи: 

1. Изучить из теории явление дифракции, условия её возникновения и условия при которых она накладывает ограничение на применение законов геометрической оптики .
2. Провести опыты наглядно показывающие/объясняющие явление дифракции.

Этапы:

1. Ознакомиться с теорией и информацией в сети интернет.
2. Провести консультацию у учителей физики и проанализировать видео ранее найденных опытов в сети интернет.
3. Провести собственные  эксперименты  (опыты с бумагой, с булавкой и CD-диском).
4. Проанализировать полученные результаты.
5. Сделать выводы.

 

Результаты изучения научной литературы

Дифракцией света называется явление отклонения света от прямолинейного направления распространения при прохождении вблизи препятствий.

Как показывает опыт, свет при определенных условиях может заходить в область геометрической тени.

Если на пути параллельного светового пучка расположено круглое препятствие (круглый диск, шарик или круглое отверстие в непрозрачном экране), то на экране, расположенном на достаточно большом расстоянии от препятствия, появляется дифракционная картина – система чередующихся светлых и темных колец.

Если препятствие имеет линейный характер (щель, нить, край экрана), то на экране возникает система параллельных дифракционных полос.

Дифракционные явления были хорошо известны еще во времена Ньютона, но объяснить их на основе корпускулярной теории света оказалось невозможным. Первое качественное объяснение явления дифракции на основе волновых представлений было дано английским ученым Т. Юнгом.

Явление дифракции накладывает ограничения на применение законов геометрической оптики:

Закон прямолинейного распространения света, законы отражения и преломления света выполняются достаточно точно только , если размеры препятствий много больше длины световой волны.

Дифракция накладывает предел на разрешающую способность оптических приборов:

— в микроскопе при наблюдении очень мелких предметов изображение получается размытым
— в телескопе при наблюдении звезд вместо изображения точки получаем систему светлых и темных полос.

 

Постановка опытов:
ОПЫТ С БУМАГОЙ

Можно  увидеть дифракцию света и на круглом отверстии в листе черной бумаги.
Сделайте большое отверстие, например, при помощи дырокола. Тогда под лупой будет видна легкая цветная кайма по его краям снаружи. У луча света, выходящего из большого отверстия, дифракционная картина почти незаметна. В большинстве случаев ее можно вообще не учитывать, полагая, что свет распространяется исключительно прямолинейно. Дифракционная картина крохотного отверстия, проколотого в бумаге иглой, гораздо больше, чем оно само, и  выглядит как система колец.

В этом случае  отверстие  выступает  как источник света с малыми угловыми размерами. Его можно заменить светящейся точкой любого происхождения.

Взяв, например, отражение солнца в шарике от подшипника, лежащем на черном фоне, можно увидеть отчетливую картину, состоящую из колец, как дифракция на отверстии.

Отражение солнца в шарике — не что иное, как его оптически уменьшенное изображение! Так, например, в шарике диаметром 3 мм мы видим солнце таким, каким бы оно виделось с очень далекой планеты. Поэтому звезды, находящиеся от нас гораздо дальше, предстают перед окуляром обычного телескопа как крохотные светящиеся точки, при увеличении которых можно видеть лишь их дифракционные картины.

ОПЫТ С БУЛАВКОЙ

Обычная булавка с колечком укреплена на кусочке дерева и освещена лампой карманного фонари с расстояния 1 — 1,5 м. Если на булавку посмотреть через лупу, то станет отчетливо видна дифракционная картина.

Точно так же рассмотрение мелких предметов через микроскоп с очень большим увеличением позволяет отчетливо видеть их дифракционные картины, и  их нередко принимают за реальные детали,  иногда приводило  к ложным открытиям.

Примеры дифракции в природе и в быту:

Тонкий слой облаков из водяных капелек, закрывающий солнце или месяц, действует как дифракционная решетка. Светило кажется окруженным разноцветным венцом (радужным ореолом) . В случае игольчатых, ледяных облаков получается другое явление: узкое кольцо большого радиуса вокруг солнца или луны. Оно возникает вследствие преломления света.

Если рассматривать пламя свечи через запотевшее стекло, посыпанное очень мелким порошком, то пламя кажется окруженным радужным ореолом.

Радуга возникает в основном вследствие преломления и полного отражения солнечных лучей в шарообразных каплях дождя. Радуга состоит из спектра, расположенного таким образом, что внешняя сторона радуги окрашена в красный цвет, а внутренний край – в фиолетовый цвет; от внешнего края до фиолетового располагаются все остальные цвета спектра. Радиус полукруга виден под углом зрения в 42,5º. Побочная радуга имеет внутренний радиус, видный под углом в 51º, и окрашена изнутри в красный цвет, а снаружи в фиолетовый.

Выводы: 

1. Изучив теорию и проведя опыты, мы сделали вывод, что в средах, в которых скорость волны плавно (по сравнению с длиной волны) меняется от точки к точке, распространение волнового пучка является криволинейным.
2. При этом световая волна также может огибать препятствие, но размеры препятствия должны быть сравнимы с длинной её волны, следовательно наша гипотеза была не верна.
3. Мы выяснили, что явление дифракции накладывает ограничения на применение законов геометрической оптики: закон прямолинейного распространения света, законы отражения и преломления света выполняются достаточно точно только , если размеры препятствий много больше длины световой волны.
4.  

   Дифракция накладывает предел на разрешающую способность оптических приборов: в микроскопе при наблюдении очень мелких предметов изображение получается размытым; в телескопе при наблюдении звезд вместо изображения точки получаем систему светлых и темных полос.

Ссылки на ресурсы:

http://www.physics.ru Информационный портал о физике «ФИЗИКОН»

https://ru.wikipedia.org/wiki/Дифракция «Википедия» – Энциклопедия.

http://class-fizika.spb.ru/ «Класс!ная физика – занятные страницы»

http://www.scienceforum.ru/ Научный форум

Презентация

Дифракция

 

 

 

 

Расширение применения порошковой рентгеновской дифракции в фармацевтической промышленности

В последнее время порошковая рентгеновская дифракция (XRPD) вышла на передний план в качестве аналитического инструмента в фармацевтической промышленности для широкого спектра применений. Новые достижения в области аппаратного и программного обеспечения, особенно разработка быстрых детекторов рентгеновского излучения, значительно сократили время измерения и улучшили пределы обнаружения. В результате этот хорошо зарекомендовавший себя метод в настоящее время генерирует важные данные для пользователей во многих областях открытия, разработки и производства лекарств.

XRPD — это метод, обладающий наибольшим потенциалом для решения широкого круга аналитических задач и выявления структурных деталей, которые ранее невозможно было наблюдать. К преимуществам XRPD по сравнению с другими широко используемыми методами относятся:

• Неразрушающий контроль — с упором на изучение реальных свойств образца без необходимости его растворения, переваривания или разрушения для получения необходимая информация
• Анализ готовых лекарственных форм, позволяющий определить целостность активного фармацевтического ингредиента (АФИ) в конечном готовом продукте
• Обнаружение кристаллических примесей — позволяет ученым-фармацевтам обнаруживать примеси вплоть до 0,05%
• Обнаружение изменений в морфологии во время производства — обеспечение постоянного технологического поведения готового продукта.

XRPD также имеет то преимущество, что является общепринятой методологией для регистрации новых продуктов и заявок на патенты; для защиты патента требуется индексированная рентгенограмма XRPD или монокристаллическая структура. Из-за большого количества полиморфных фаз, которые часто могут быть синтезированы с эффективностью, аналогичной запатентованному ингредиенту или лекарственному продукту, вопросы нарушения патентных прав и производства дженериков имеют первостепенное значение. Следовательно, многие фармацевтические компании вложили значительные средства в системы XRPD. Такие компании теперь в состоянии реализовать весь потенциал своих систем для различных видов анализа. Действительно, некоторые системы, такие как X’Pert PRO MPD ( PANalytical , Алмело, Нидерланды) практически не ограничены в своих возможностях адаптации к новым методам измерения, что стало необходимым из-за разработки новых материалов и необходимости отвечать на новые вопросы. Поскольку дифрактометр X’Pert PRO MPD основан на предварительно настроенной на заводе оптике и предметных столиках (концепция PreFIX), дифрактометр X’Pert PRO MPD можно быстро преобразовать из высокотехнологичной системы для исследователя-кристаллографа в рабочую лошадку для лаборанта.

Некоторые из многих способов использования XRPD в настоящее время в фармацевтической промышленности иллюстрируются следующими примерами.

Применение в исследованиях и разработках

Наиболее фундаментальным, но крайне важным применением XRPD является идентификация или снятие отпечатков пальцев кристаллических фаз, с различными кристаллическими структурами, дающими отчетливые порошковые дифрактограммы. Качественная характеристика материалов таким образом находит применение во многих областях, включая контроль качества и скрининг полиморфов.

Кристаллография и определение кристаллической структуры

Хотя кристаллическую структуру материала можно определить по общей порошковой дифрактограмме, в большинстве случаев достаточно просто определить тип решетки и размеры элементарной ячейки для этого нового материала (индексация ). Эта форма анализа особенно полезна для характеристики альтернативных форм или полиморфов зарегистрированных лекарств, срок действия патентов на которые истекает. В дополнение к этому методу может быть получена такая информация, как параметры смещения, координаты атомов в элементарной ячейке, занятость позиции и предпочтительная ориентация.

Фазовый анализ и скрининг полиморфов

XRPD особенно полезен для различения различных фаз или полиморфов по их уникальной дифракционной картине. Поскольку выбор полиморфа может иметь важное значение в отношении таких свойств, как растворимость, биодоступность и стабильность, стремление получить и охарактеризовать все доступные полиморфы данного лекарственного вещества стало областью, которая привлекает интенсивную деятельность. Поскольку новая кристаллическая форма АФИ может быть запатентована как новый фармацевтический продукт, поиск каждого полиморфа целевого соединения является неоценимым шагом к патентной защите.

Определение кристалличности

Рис. 1. Рентгенограмма кристаллической лактозы с различным содержанием аморфной лактозы. Калибровочная кривая показывает, что предел обнаружения для 0–10% аморфной фазы составляет около 1%.

XRPD успешно используется для определения процента кристалличности ( Рисунок 1 ), когда измеряется объемная концентрация, например, аморфного наполнителя в кристаллической активной матрице в лекарственной форме лекарственного средства. Процент кристалличности может влиять на поведение препарата при обработке, а также на его фармакологическую эффективность.

Исследования стабильности

Исследования порошковой дифракции in situ, проводимые в зависимости от температуры и/или относительной влажности, могут предоставить прямые средства для характеристики стабильности фармацевтического соединения и возникновения процессов гидратации/дегидратации ( Рисунок 2 ) . Такие дифракционные эксперименты без окружающей среды можно проводить на любой стадии процесса разработки лекарств.

Рис. 2. Фазовая диаграмма температура–влажность для 4-эпиокситетрациклина.

Исследования совместимости

Неразрушающий характер XRPD делает его идеальным инструментом для систематических исследований совместимости лекарственного средства и вспомогательных веществ в преформах. Тщательный выбор вспомогательных веществ наряду с систематической оценкой взаимодействий между лекарственными средствами и вспомогательными веществами имеет важное значение для достижения постоянного высвобождения и биодоступности, а также для предотвращения непредвиденных проблем со стабильностью состава на более поздних стадиях разработки состава.

Производство и производство

Способность XRPD обнаруживать и количественно определять наличие любых полиморфных загрязнений, уровень кристаллографических изменений и активный ингредиент в конечной лекарственной форме позволяет использовать этот метод для мониторинга и повышения эффективности производства и Стоимость. Как только активный ингредиент фармацевтического продукта находится в своей конечной лекарственной форме, параметры морфологии, измеренные с помощью рентгеновской дифракции, могут быть напрямую связаны с конечными характеристиками лекарственного средства.

Контроль ингредиентов

Рисунок 3. Измерение смесей двух форм азитромицина с различными концентрациями, показывающее предел обнаружения формы II около 0,1%.

XRPD хорошо подходит для мониторинга морфологии кристаллов активных ингредиентов или вспомогательных веществ ( Рисунок 3 ). Это важно, поскольку любое изменение морфологии наполнителей или кристаллического состояния активных ингредиентов в конечном продукте в результате производственного процесса может повлиять на биодоступность лекарственного средства.

Благодаря X’Celerator ( PANalytical ) нижний предел обнаружения неосновных фаз был значительно снижен, в некоторых случаях даже до 0,05%.

Управление технологическим процессом

Способность XRPD определять структурные параметры вместе с возможностями неразрушающего анализа делают его полезным в различных приложениях. Одним из таких примеров является использование XRPD для определения оптимального диапазона давления таблетирования. Это позволяет производителям отслеживать кристаллографическую структуру АФИ, чтобы убедиться, что готовая таблетка достигает заданной скорости растворения (9). 0037 Рисунок 4 ).

Рисунок 4 – Контроль влияния давления таблетирования на свойства готовых таблеток. Определив диапазон давления, связанный со стабильными структурными параметрами, можно было установить оптимальное давление для целевой скорости растворения лекарственного средства.

Однородность партии/дозировки

Рисунок 5 – Калибровочная линия для количественного определения API в готовых таблетках индометацина. Была разработана методология, позволяющая определять содержание АФИ с точностью ±0,5 (значительно более высокая степень точности, чем та, которая требуется законодательством в большинстве стран).

Поскольку XRPD позволяет исследовать материалы непосредственно в условиях, в которых они используются в конкретных приложениях, он полезен для контроля однородности партии/дозировки. Можно проанализировать фактическое процентное содержание отдельных активных ингредиентов в конечной лекарственной форме лекарственного препарата in situ (, рисунок 5, ) вместе с процентным содержанием любых используемых аморфных или кристаллических упаковочных ингредиентов. XRPD можно даже использовать для идентификации и количественного определения небольших количеств кристаллического аэрозольного препарата, доставляемого дозирующим ингалятором под давлением. Для примера, показанного на Рисунок 6 , высококачественные данные были получены без какого-либо специального метода или оборудования для подготовки проб.

Рисунок 6. Идентификация и количественное определение Salbutamol ^® ( GlaxoSmithKline , Мидлсекс, Великобритания), доставляемого дозирующим ингалятором под давлением.

Заключение

Уровень сложности современных лекарственных форм требует мультидисциплинарного подхода к их разработке. Одно из сильных сторон XRPD заключается в его способности определять характеристики всего состава in situ, сопоставляя физико-химическую и кристаллографическую структуру с наблюдаемой стабильностью и профилями высвобождения лекарственного средства. Кроме того, оказывается, что он имеет большое значение для скрининга полиморфов, неокружающего анализа и индексации. Поэтому неудивительно, что этот мощный метод быстро становится ключевым аналитическим инструментом, используемым во всей фармацевтической промышленности.

Д-р Литтер — менеджер сегмента рынка фармацевтической продукции, PANalytical , Натик, Массачусетс, США Д-р Беккерс — специалист по разработке приложений, PANalytical BV , Lelyweg 1, 7602, TheEA, Almelo; тел.: +31 (0) 546 534 444; факс: +31 (0) 546 534598; электронная почта: [электронная почта защищена]; домашняя страница: www.panalytical.com.

Применение геометрической теории дифракции к наземному распространению НЧ радиоволн

Авторов:

• Р. Майкл Джонс

1. Р. Майкл Джонс

   Посмотреть публикации автора

   Вы также можете искать этого автора в пабмед Google ученый

Часть серии книг: Mitteilungen aus dem Max-Planck-Institut für Aeronomie (AERONOMIE, том № 37, 1968 г. )

• 330 доступов

• 2 Цитаты

Секции

• Содержание
• Ключевые слова
• Библиографическая информация

‘) var head = document.getElementsByTagName(«head»)[0] var script = document.createElement(«сценарий») script.type = «текст/javascript» script.src = «https://buy.springer.com/assets/js/buybox-bundle-abe5f44a67.js» script.id = «ecommerce-scripts-» ​​+ метка времени head.appendChild (скрипт) var buybox = document. querySelector(«[data-id=id_»+ метка времени +»]»).parentNode var сейчас = новая дата().getTime() вар начало = 1650956400000 вар конец = 1652338800000 var isMeasuringTime = now > start && now -1) { ;[].slice.call(buybox.querySelectorAll(«.кнопка варианта покупки[тип=отправить]»)).forEach(функция (кнопка, индекс) { button.removeAttribute(«отключено») }) ;[].slice.call(buybox.querySelectorAll(«.Информация-предварительного-заказа-опций-покупки»)).forEach(функция (эл., индекс) { el.style.display = ‘нет’ }) ;[].slice.call(buybox.querySelectorAll(«.вариант покупки-информация о предварительном заказе.новая-функция»)).forEach(функция (эл., индекс) { эл.стиль.дисплей = » }) } функция initMetrics (начало, конец) { var metricsKey = «abMetricsCampaignPrices-v1» переменная кампанияPricesMetricsGroup = «X» if (!window. localStorage || !window.fetch) вернуть командуPricesMetricsGroup если (! isMeasuringTime) { window.localStorage.removeItem(metricsKey) вернуть «НЕТ» } пытаться { var metricsValue = window.localStorage.getItem(metricsKey) кампанияPricesMetricsGroup = metricsValue || случайное распределение (метрический ключ) } поймать (ошибиться) { console.log(ошибка) } обратная кампанияPricesMetricsGroup } функция случайного распределения (метрический ключ) { var randomGroup = Math.random() -1 ;[].slice.call(buybox.querySelectorAll(«.опция покупки»)).forEach(функция (опция, индекс) { var toggle = option.querySelector(priceNS + «. buying-option-price») var form = option.querySelector(«.форма-варианта-покупки») var priceInfo = option.querySelector(priceNS + «.price-info») если (allOptionsInitiallyCollapsed || узкаяBuyboxArea && индекс > 0) { toggle.setAttribute («ария-расширенная», «ложь») form.hidden = «скрытый» priceInfo.hidden = «скрытый» } еще { переключить.щелчок() } }) } начальное состояниеОткрыть() если (window.buyboxInitialized) вернуть window.buyboxInitialized = истина initKeyControls() если (window.fetch && isMeasuringTime) { var свернутый = buybox.querySelector(«. buying-option.expanded») === ноль var metricsAppendix = «» metricsAppendix += «&discount=» + (buybox.querySelector(«.Цена-кампания-покупки-варианта»).className.indexOf(«со скидкой») !== -1).toString() metricsAppendix += «&metricsGroup=» + кампанияPricesMetricsGroup metricsAppendix += «&collapsed=» +collapsed.toString() window.fetch(«https://test-buckets.springer.com/log?v3&time=» + сейчас + приложение metrics) .затем (функция (разрешение) { вернуть рез.текст() }) .поймать (функция () { }) } })()

Доступ через ваше учреждение

‘) var head = document. getElementsByTagName(«head»)[0] var script = document.createElement(«сценарий») script.type = «текст/javascript» script.src = «https://buy.springer.com/assets/js/buybox-bundle-abe5f44a67.js» script.id = «ecommerce-scripts-» ​​+ метка времени head.appendChild (скрипт) var buybox = document.querySelector(«[data-id=id_»+ метка времени +»]»).parentNode var сейчас = новая дата().getTime() вар начало = 1650956400000 вар конец = 1652338800000 var isMeasuringTime = now > start && now -1) { ;[].slice.call(buybox.querySelectorAll(«.кнопка варианта покупки[тип=отправить]»)).forEach(функция (кнопка, индекс) { button.removeAttribute(«отключено») }) ;[].slice.call(buybox.querySelectorAll(«.Информация-предварительного-заказа-опций-покупки»)). forEach(функция (эл., индекс) { el.style.display = ‘нет’ }) ;[].slice.call(buybox.querySelectorAll(«.вариант покупки-информация о предварительном заказе.новая-функция»)).forEach(функция (эл., индекс) { эл.стиль.дисплей = » }) } функция initMetrics (начало, конец) { var metricsKey = «abMetricsCampaignPrices-v1» переменная кампанияPricesMetricsGroup = «X» if (!window.localStorage || !window.fetch) вернуть командуPricesMetricsGroup если (! isMeasuringTime) { window.localStorage.removeItem(metricsKey) вернуть «НЕТ» } пытаться { var metricsValue = window.localStorage.getItem(metricsKey) кампанияPricesMetricsGroup = metricsValue || случайное распределение (метрический ключ) } поймать (ошибиться) { console. log(ошибка) } обратная кампанияPricesMetricsGroup } функция случайного распределения (метрический ключ) { var randomGroup = Math.random() -1 ;[].slice.call(buybox.querySelectorAll(«.опция покупки»)).forEach(функция (опция, индекс) { var toggle = option.querySelector(priceNS + «.buying-option-price») var form = option.querySelector(«.форма-варианта-покупки») var priceInfo = option.querySelector(priceNS + «.price-info») если (allOptionsInitiallyCollapsed || узкаяBuyboxArea && индекс > 0) { toggle.setAttribute («ария-расширенная», «ложь») form.hidden = «скрытый» priceInfo.hidden = «скрытый» } еще { переключить. щелчок() } }) } начальное состояниеОткрыть() если (window.buyboxInitialized) вернуть window.buyboxInitialized = истина initKeyControls() если (window.fetch && isMeasuringTime) { var свернутый = buybox.querySelector(«.buying-option.expanded») === ноль var metricsAppendix = «» metricsAppendix += «&discount=» + (buybox.querySelector(«.Цена-кампания-покупки-варианта»).className.indexOf(«со скидкой») !== -1).toString() metricsAppendix += «&metricsGroup=» + кампанияPricesMetricsGroup metricsAppendix += «&collapsed=» +collapsed.toString() window.fetch(«https://test-buckets.springer.com/log?v3&time=» + сейчас + приложение metrics) .затем (функция (разрешение) { вернуть рез. текст() }) .поймать (функция () { }) } })()

Применение дифракции обратного рассеяния электронов и визуализации ориентационного контраста в РЭМ для текстурных проблем горных пород | Американский минералог

Skip Nav Destination

Исследовательская статья| 01 декабря 1999 г.

Дэвид Дж. Прайор;

Алан П. Бойл;

Фрэнк Бренкер;

Майкл С. Чидл;

Остин Дэй;

Глория Лопес;

Лука Перуцци;

Грэм Поттс;

Стив Редди;

Ричард Списс;

Ник Э. Тиммс;

Пэт Тримби;

Джон Уиллер;

Лена Зеттерстром

Американский минералог (1999) 84 (11-12): 1741–1759.

https://doi.org/10.2138/am-1999-11-1204

История статьи

первый онлайн:

02 марта 2017

• Цитировать
  • Посмотреть эту цитату
  • Добавить в менеджер цитирования
• Делиться
  • MailTo
  • Твиттер
  • LinkedIn
• Инструменты

  • Получить разрешения

• Поиск по сайту

Citation

Дэвид Дж. Прайор, Алан П. Бойл, Фрэнк Бренкер, Майкл С. Чидл, Остин Дэй, Глория Лопес, Лука Перуцци, Грэм Поттс, Стив Редди, Ричард Списс, Ник Э. Тиммс, Пэт Тримби, Джон Уиллер, Лена Зеттерстрем; Применение дифракции обратного рассеяния электронов и визуализации ориентационного контраста в СЭМ для решения текстурных проблем горных пород. Американский минералог 1999;; 84 (11-12): 1741–1759. doi: https://doi.org/10.2138/am-1999-11-1204

Скачать файл цитаты:

• Ris (Zotero)
• Рефменеджер
• EasyBib
• Подставки для книг
• Менделей
• Бумаги
• КонецПримечание
• РефВоркс
• Бибтекс

панель инструментов поиска

Расширенный поиск

В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) электронный пучок создает всенаправленный источник рассеянных электронов внутри образца. Дифракция этих электронов будет происходить одновременно на всех плоскостях решетки в образце, а обратно рассеянные электроны (BSE), которые вылетают из образца, будут формировать дифракционную картину, которую можно отобразить на люминофорном экране. На этом основана дифракция обратного рассеяния электронов (EBSD). Подобные дифракционные эффекты приводят к тому, что отдельные зерна с разной ориентацией дают разный общий BSE. Изображения SEM, использующие этот эффект, будут показывать контраст ориентации (OC). EBSD и OC визуализация — это кристаллографические инструменты на основе SEM. EBSD позволяет измерять кристаллографическую ориентацию отдельных породообразующих минералов размером до 1 мкм, а также вычислять оси разориентации и углы между любыми двумя точками данных. Изображения OC позволяют отображать все границы разориентации в образце и, таким образом, предоставляют карту местоположения для анализа EBSD. EBSD в сочетании с визуализацией OC в SEM позволяет определять полные микротекстуры и мезотекстуры образцов.